Para empezar, necesitará un informe GDMS (espectrometría de masas por descarga luminosa). Con él se puede hacer una estimación preliminar de la pureza teórica de la sílice (SiO₂). Sin embargo, hay que tener en cuenta las siguientes limitaciones clave y métodos de cálculo:

Informe SGD
1. Método de ejemplo para estimar la pureza del SiO₂.
(1) Método de cálculo directo (método de deducción del componente principal)
Suposición:
El componente principal del tubo de cuarzo es el SiO₂, y todos los demás elementos se consideran impurezas.
Fórmula:
SiO₂ pureza ≈ 100% - Σ (contenido de todos los elementos de impureza)
Pasos del cálculo:
- Extraiga del informe el contenido de todos los elementos de impureza distintos del oxígeno y el silicio (en ppm en peso).
- Sume los contenidos de impurezas para obtener el contenido total de impurezas.
- Reste el porcentaje total de impurezas (ppm ÷ 10.000) de 100%.
(2) Cálculo real (basado en los datos del informe)
Determinar la cantidad total de impurezas detectadas (unidad: ppm):
Li (0,16) + B (1,1) + Na (0,29) + Mg (0,05) + Al (11) + Ti (3,4) + K (0,58) + otros límites superiores (p. ej., Fe <0,5, Cr <0,5...)
≈ 0,16 + 1,1 + 0,29 + 0,05 + 11 + 3,4 + 0,58 + 0,5 (Fe) + 0,5 (Cr) + 0,05 (Ni) + 0,1 (Cu) + 1 (Ca)
≈ 18,73 ppm (estimación conservadora, calculada utilizando límites superiores)
SiO₂ Pureza:
100% - (18,73 ÷ 10.000) = 99.8127%
(3) Factores de corrección
- Elementos no detectados: Los elementos marcados como "-" en el informe (como Au, Hg, etc.) pueden estar por debajo del límite de detección del instrumento, pero no se contabilizan en el total de impurezas.
- Contenido de oxígeno no cuantificado: El informe sólo marca el oxígeno como "componente principal", pero en el SiO₂ real, el oxígeno representa el 53,2% de su composición (es necesario corregir la relación estequiométrica).
2. Evaluación de la pureza Conclusión
- Pureza conservadora: ≥ 99,81% (calculado utilizando los límites superiores de las impurezas detectadas por GDMS)
- La pureza real puede ser mayor: Si algunos elementos están muy por debajo de sus límites máximos (por ejemplo, el Fe sólo alcanza 0,1 ppm), la pureza podría llegar a 99.9%.
3. Limitaciones y consideraciones clave
(1) Limitaciones del método GDMS
- Datos semicuantitativos: Por ejemplo, Fe <0,5 ppm podría ser en realidad 0,1 ppm o 0,01 ppm, lo que puede afectar significativamente al cálculo de la pureza.
- Faltan elementos luminosos: El GDMS tiene una capacidad de detección débil para elementos ligeros como el C y el H, lo que puede llevar a subestimar el total de impurezas (por ejemplo, no se detecta el hidroxilo OH-).
(2) Comparación con las normas del sector
Calidad del material | Requisito típico de pureza de SiO₂ | Pureza estimada a partir de GDMS | Cumple la norma |
---|---|---|---|
Cuarzo industrial | ≥99.5% | 99.81% | ✅ Sí |
Cuarzo fotovoltaico | ≥99.9% | Cerca, pero incierto | ⚠ Se necesita verificación ICP-MS. |
Cuarzo semiconductor | ≥99.99% | No alcanzado | ❌ No |
4. Recomendaciones de aplicación del material
- Uso industrial/general: La pureza de 99,8% es suficiente y puede utilizarse directamente.
- Uso fotovoltaico/semiconductor:
- Utilice ICP-MS para confirmar si las impurezas metálicas críticas (Fe, Na, etc.) están realmente por debajo de 0,1 ppm.
- Complementar con pruebas FTIR para determinar el contenido de hidroxilo (OH- < 5 ppm).
Resumen:
Este material pertenece al cuarzo de grado industrial de gran pureza, pero no cumple los requisitos de grado semiconductor (4N5 o 5N).
Base de la decisión:
Si el proceso del cliente es sensible a la contaminación Fe/Na (por ejemplo, células solares PERC), debe darse prioridad a la verificación de los niveles reales de impurezas.