Till att börja med behöver du en GDMS-rapport (Glow Discharge Mass Spectrometry). Denna kan användas för att göra en preliminär uppskattning av den teoretiska renheten hos kiseldioxid (SiO₂). Följande viktiga begränsningar och beräkningsmetoder måste dock noteras:

GDMS-rapport
1. Exempel på metod för att uppskatta renheten hos SiO₂
(1) Metod för direkt beräkning (metod för avdrag av huvudkomponent)
Antagande:
Huvudkomponenten i kvartsröret är SiO₂, och alla andra element betraktas som föroreningar.
Formel:
SiO₂-renhet ≈ 100% - Σ (innehåll av alla orenhetselement)
Beräkningssteg:
- Extrahera från rapporten innehållet av alla föroreningselement utom syre och kisel (i ppm av vikt).
- Räkna samman föroreningshalterna för att få den totala föroreningshalten.
- Subtrahera den totala föroreningsprocenten (ppm ÷ 10 000) från 100%.
(2) Faktisk beräkning (baserad på rapportdata)
Bestäm den totala mängden detekterade föroreningar (enhet: ppm):
Li (0,16) + B (1,1) + Na (0,29) + Mg (0,05) + Al (11) + Ti (3,4) + K (0,58) + andra övre gränser (t.ex. Fe <0,5, Cr <0,5...)
≈ 0,16 + 1,1 + 0,29 + 0,05 + 11 + 3,4 + 0,58 + 0,5 (Fe) + 0,5 (Cr) + 0,05 (Ni) + 0,1 (Cu) + 1 (Ca)
≈ 18,73 ppm (konservativ uppskattning, beräknad med hjälp av övre gränser)
SiO₂ Renhet:
100% - (18,73 ÷ 10.000) = (18,73 ÷ 10.000) 99.8127%
(3) Korrektionsfaktorer
- Oupptäckta element: Element som är markerade med "-" i rapporten (t.ex. Au, Hg osv.) kan ligga under instrumentets detektionsgräns, men räknas inte in i de totala föroreningarna.
- Syrehalten har inte kvantifierats: I rapporten anges endast syre som en "huvudkomponent", men i faktisk SiO₂ står syre för 53,2% av dess sammansättning (korrigering av stökiometriskt förhållande krävs).
2. Utvärdering av renhet Slutsats
- Konservativ renhet: ≥ 99,81% (beräknat med hjälp av de övre gränserna för GDMS-detekterade föroreningar)
- Den faktiska renheten kan vara högre: Om vissa element ligger långt under sina övre gränser (t.ex. Fe är bara 0,1 ppm) kan renheten uppgå till 99.9%.
3. Viktiga begränsningar och överväganden
(1) Begränsningar av GDMS-metoden
- Semikvantitativa uppgifter: Till exempel kan Fe <0,5 ppm i själva verket vara 0,1 ppm eller 0,01 ppm, vilket kan påverka renhetsberäkningen avsevärt.
- Saknar ljuselement: GDMS har svag detektionsförmåga för lätta element som C och H, vilket kan leda till underskattning av totala föroreningar (t.ex. hydroxyl OH- detekteras inte).
(2) Jämförelse med branschstandarder
Materialkvalitet | Typiskt krav på renhet för SiO₂ | Renhetsgrad uppskattad från GDMS | Uppfyller standard |
---|---|---|---|
Kvarts av industriell kvalitet | ≥99,5% | 99.81% | ✅ Ja |
Kvarts av fotovoltaisk kvalitet | ≥99,9% | Nära, men osäkert | ⚠ ICP-MS-verifiering krävs |
Kvarts av halvledarkvalitet | ≥99.99% | Ej uppnått | ❌ Nej |
4. Tillämpningsrekommendationer för materialet
- Industriell/allmän användning: Renhetsgraden 99,8% är tillräcklig och kan användas direkt.
- Användning av fotovoltaik/halvledare:
- Använd ICP-MS för att bekräfta om kritiska metallföroreningar (Fe, Na, etc.) verkligen är under 0,1 ppm.
- Komplettera med FTIR-test för att fastställa hydroxylinnehåll (OH- < 5 ppm).
Sammanfattning:
Detta material tillhör industriklassad kvarts med hög renhet men uppfyller inte kraven för halvledarklass (4N5 eller 5N).
Beslutsunderlag:
Om kundens process är känslig för Fe/Na-föroreningar (t.ex. PERC-solceller) bör man prioritera att verifiera de faktiska föroreningsnivåerna.